X射線-極紫外波段成像儀器檢測(cè)定標(biāo)方法 編制說(shuō)明

1T1術(shù)委員會(huì)。12負(fù)責(zé)標(biāo)核34管理562外波段成像儀器檢測(cè)定標(biāo)方法》工作組討論稿及編制說(shuō)明，在組內(nèi)進(jìn)行了初步討論X標(biāo)3。負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)文本的技術(shù)指導(dǎo)和審核工作。照工作計(jì)劃進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)材料的編制。丁廣興(男)，博士畢業(yè)于長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,從事于遠(yuǎn)紫外波段極光輻射。4標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容的論據(jù)分辨率、光譜響應(yīng)特性測(cè)量、有效面積、幾何定標(biāo)、暗噪聲定標(biāo)和輻射定標(biāo)等。器的研制質(zhì)量。定標(biāo)方面缺乏可行方案、標(biāo)準(zhǔn)的問(wèn)題。檢測(cè)定標(biāo)階段方法在初樣研制階段和正樣研制階段都適用。5空紫外光學(xué)元器件檢測(cè)定標(biāo)裝置，獲得中科院科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)，為國(guó)內(nèi)多家研究機(jī)構(gòu)器的檢測(cè)定標(biāo)工作。的的測(cè)試方法，其中主要內(nèi)容的論據(jù)如下。不完整。像元角分辨率為焦平面探測(cè)器單個(gè)像元在物空間的對(duì)應(yīng)張角大小。視算張6測(cè)試。評(píng)估點(diǎn)源目標(biāo)圖像的兩維方向的PSF灰度分布的半峰全寬(FWHM)，該半峰全寬的系統(tǒng)的光學(xué)分辨率。下工作波段成像的方式評(píng)價(jià)系統(tǒng)光學(xué)角分辨率?；赑SF灰度分布的半峰全寬(FWHM)主點(diǎn)坐標(biāo)以及畸變系數(shù)等參數(shù)。成像儀器幾何定標(biāo)一般采用測(cè)角法，得到一組一一對(duì)應(yīng)的物方視場(chǎng)角(αi，ωi)和星點(diǎn)在像面上所成像的橫坐標(biāo)位置(xi，yi)。使用這些數(shù)據(jù)，利用最小二乘回歸法求解方程，求解主距和畸變。應(yīng)用于國(guó)內(nèi)外成像儀器的幾何定標(biāo)，具有良好的通用性。X測(cè)元件的反射率和透過(guò)率分布。7X性測(cè)量，定標(biāo)工作。。芯他波段儀器的暗噪聲定標(biāo)。射線-極紫外波段，目前無(wú)法獲取照度均勻性和亮度均勻性滿(mǎn)足要求的定標(biāo)目標(biāo)，只能采用8工射定標(biāo)系數(shù)。內(nèi)的技術(shù)人員可按實(shí)際需要自主設(shè)計(jì)具體的測(cè)試設(shè)備。析、綜述報(bào)告，技術(shù)經(jīng)濟(jì)論證和預(yù)期的經(jīng)濟(jì)效果驗(yàn)以一個(gè)光學(xué)角分辨率為具體實(shí)施例，進(jìn)行分析和綜述。率。9a測(cè)儀器安裝于真空罐中；b)校準(zhǔn)成像儀與平行光管光軸，使得兩者盡量一致；d抽真空至優(yōu)于5×10-4Pa;f)成像儀在真空下對(duì)平行光管小孔目標(biāo)成像；g)讀取工作波段下下針孔目標(biāo)的圖像灰度分布并做亞像元擬合，計(jì)算針孔圖像的灰a)讀取工作波段下針孔目標(biāo)的圖像灰度分布(亞像元擬合)，計(jì)算星點(diǎn)的灰度峰值半dX1-X2(1)光學(xué)角分辨率。X礎(chǔ)科學(xué)的跨越式發(fā)展。創(chuàng)造出一定的經(jīng)濟(jì)效果。采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)的程度及對(duì)比情況X核出的內(nèi)容具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。律、