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文檔簡介
變壓器套管介質(zhì)損耗因數(shù)起標(biāo)原因分析李良;王朝陽;王春宇;劉忠順【摘要】針對雙樓變電站1號主變壓器套管例行試驗中存在介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)的問題,從介質(zhì)損耗因數(shù)增大原理、直流電阻試驗數(shù)據(jù)和介質(zhì)損耗數(shù)據(jù)三方面進行分析,認(rèn)為套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)的原因是一次導(dǎo)電桿接觸不良,并提出防范及判斷該類主變壓器套管介質(zhì)損耗超標(biāo)的建議。%ForthedielectriclossfactoroverproofproblemoftheNo1.transformerbushingofShuangloutransformersub-stationintheroutinetest,analyzesfromthethreerespectsthatarethedielectriclossfactortestingprinciple,theDCresistancetestdata,andthedielectriclossandsoon,considersthatthecauseispoorcontactofconductiverod,andputsfor-wardtheproposalabouthowtokeepawayandthesugges-tionstojudgethiskindsoftransformerbushingdielectriclossfactor.【期刊名稱】《河北電力技術(shù)》【年(卷),期】2013(000)005【總頁數(shù)】3頁(P44-45,53)【關(guān)鍵詞】變壓器;套管;介質(zhì)損耗因數(shù);導(dǎo)電桿;直流電阻;接觸不良【作者】李良;王朝陽;王春宇;劉忠順【作者單位】國網(wǎng)河北省電力公司滄州供電分公司,河北滄州061001;國網(wǎng)河北省電力公司滄州供電分公司,河北滄州061001;國網(wǎng)河北省電力公司滄州供電分公司,河北滄州061001;國網(wǎng)河北省電力公司滄州供電分公司,河北滄州061001【正文語種】中文【中圖分類】TM21651套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)概況某地區(qū)雙樓變電站1號SFSZ10-180000/220主變壓器容量為180000kVA,2008年3月出廠,2008年10月投運,220kV側(cè)中性點套管型號為COT550-800,電容312pF,2007年12月出廠,2008年10月投運。2010年1月6日,使用AI-6000E儀器對雙樓站變電1號主變壓器進行例行試驗,當(dāng)天天氣晴,現(xiàn)場環(huán)境溫度6。^濕度37%,在對高壓側(cè)(220kV側(cè))中性點套管介質(zhì)損耗因數(shù)(tanS))測試時,測試數(shù)據(jù)超過規(guī)程要求值,而且與歷史數(shù)據(jù)比較變化較大。在對套管表面進行干燥、擦拭后,重新測試該套管介質(zhì)損耗因數(shù),測試數(shù)據(jù)沒有明顯變化,見表1。表1220kV側(cè)套管介質(zhì)損耗因數(shù)測試數(shù)據(jù)相別tan8Cx/pFC0/pFAC/%U0.0028386.7383.70.78V0.00277386.73811.5W0.00298389.1383.71.4N(解體后)0.00288313312.10.35N(解體前)0.02380313.6312.10.48注:△C=(Cx-C0)/C0x100%。2介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)原因分析2.1介質(zhì)損耗因數(shù)增大原理介質(zhì)損耗因數(shù)測試所用儀器AI-6000E原理為QS1型平衡電橋原理。QS1型電橋接線原理及電橋平衡時向量圖,見圖1、圖2。圖1QS1型電橋接線原理圖2QS1電橋平衡時向量圖電橋平衡時,介質(zhì)損耗因數(shù)及電容量計算公式如下:CX=(R4/R3)CN(1)tan8=wC4R4(2)式中:CN為高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器,R4為無感固定電阻,3為角頻率,以上3個量均為定量;R3為無感可調(diào)電阻,C4為可調(diào)電容器,以上2個量為變量。電橋平衡過程是通過調(diào)節(jié)R3和C4,從而分別改變橋臂電壓的大小和相位來實現(xiàn)的。調(diào)節(jié)R3可以改變UVD的幅值,使之與UUD的大小相等,調(diào)節(jié)C4時,由于6很小,所以C4的數(shù)值不大,對Z4的幅值影響很小,也就是對UVD的幅值影響很小,只是影響Z4阻抗角的變化,換言之,決定CX、tan6變化的直接量分別為R3和C4[1]。只要分析出當(dāng)RX增大時C4如何變化即可得出結(jié)論。式(1)中由于CX沒有變化,R3沒有變化,接線原理ZX支路中UWD不變,RX增大,回路電流IX減小,R3沒有變化,UUD減小。電橋平衡時,由于UVD=UUD,因此UVD也要減小。在CN支路中,除C4外其他量均為定量,要想使UVD減小,只能調(diào)節(jié)C4使之增大,使電橋達到平衡,由于前面分析C4的變化決定介質(zhì)損耗的變化,從而介質(zhì)損耗因數(shù)tan6增大。2.2直流電阻試驗分析使用BZC3391型直流電阻測試儀,采用三通道的測試方式對三相直流電阻同時進行測試。對有中性點引出的星形接線進行測試時,測試原理見圖3,測試結(jié)果見表2。圖3直流電阻測試原理表2220kV側(cè)直流電阻數(shù)據(jù)分接位置RUN/mQRVN/mQRWN/mQAR/%1313.4313.8314.70.412308.6309.9310.30.553303.2304.9304.70.564298.5298.7300.10.535293.3295.1294.50.616288.6289.3290.00.487283.2285.6284.50.848278.4280.0279.80.579272.3272.0272.60.2210277.8278.6278.60.2911283.1283.8284.40.46注:AR為RUN、RVN、RWN三者間最大互差與最小者的比值。從表2可以看出,直流電阻測試數(shù)據(jù)在合格范圍內(nèi),三相互差未超出規(guī)程規(guī)定值2%。通常情況下,如果套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)是由一次回路接觸不良導(dǎo)致的,會從直流電阻測試數(shù)據(jù)上反應(yīng)出來,但該只套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)卻未反應(yīng)到直流電阻測試數(shù)據(jù)上,主要原因需從試驗儀器的測試原理進行分析。從圖3及其計算公式可以看出:BZC3391型直流電阻測試儀的測試原理為電流電壓法,在變壓器直流電阻測試過程中電流只在三相繞組中流過,電流回路不經(jīng)過中性點,在變壓器中性點只是取一個電壓信號,中性點套管一次導(dǎo)電桿接觸不良增加的阻值相對于電壓表的內(nèi)阻來說很小,對取得電壓信號基本沒有影響,同時電流值是不變的,經(jīng)儀器計算后得出的直流電阻試驗數(shù)據(jù)基本不變。因此,該套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)未能通過直流電阻測試數(shù)據(jù)反應(yīng)出主要原因。2.3介質(zhì)損耗試驗數(shù)據(jù)分析高壓側(cè)中性點套管測試采用正接線方式,高壓側(cè)短封接高壓線,中、低壓側(cè)短封接地,套管末屏取信號。第1次介質(zhì)損耗因數(shù)試驗數(shù)據(jù)為0.028,超過規(guī)程要求,且與歷史數(shù)據(jù)比較相差很大,由于主變壓器周圍無帶電設(shè)備,且現(xiàn)場采用正接線方式,基本不存在外界電場干擾。根據(jù)試驗數(shù)據(jù)結(jié)合現(xiàn)場實際情況及該主變壓器周圍設(shè)備運行情況,經(jīng)現(xiàn)場初步分析,導(dǎo)致介質(zhì)損耗因數(shù)偏大的原因可能為:試驗接線一次回路接觸不良(將軍帽松動、導(dǎo)電桿松動或套管末屏接觸不良);套管內(nèi)部受潮、擊穿,表面潮濕、臟污;高壓引線與套管夾角太小存在雜散電容。結(jié)合電容量綜合分析,由于電容量近似相等,相差不大,可排除套管內(nèi)部受潮、擊穿的可能。介質(zhì)損耗因數(shù)與電容量、一次回路等效電阻關(guān)系式:tan8=P/Q=wCXRX⑶由公式(3)可以看出,CX沒有變化,3為定量,所以導(dǎo)致介質(zhì)損耗因數(shù)增大的量為RX,因此推斷套管一次接觸不良,可能的位置在一次導(dǎo)電桿或套管末屏處。隨后對套管進行末屏介質(zhì)損耗試驗,測試數(shù)據(jù)正常,排除了末屏接觸不良的可能,確定導(dǎo)致介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)的原因為套管一次導(dǎo)電桿處連接松動。2.4原因確定綜合以上直流電阻和介質(zhì)損耗數(shù)據(jù)分析可以看出,由于直流電阻測試過程中電流回路不經(jīng)過中性點套管,直流電阻試驗數(shù)據(jù)變化不明顯;處理前后2次試驗的介質(zhì)損耗因數(shù)數(shù)據(jù)變化明顯,電容量沒有變化。由此可見,套管一次導(dǎo)電桿接觸不良是導(dǎo)致其介質(zhì)損耗因數(shù)值超標(biāo)的根本原因。對套管一次導(dǎo)電桿螺桿進行解體,在拆除過程中發(fā)現(xiàn)一次連接松動。將外部螺帽拆除后直接將短封線接于內(nèi)螺桿處進行測試,tan8為0.0035,數(shù)據(jù)正常。通過對套管一次處理前后的介質(zhì)損耗因數(shù)試驗數(shù)據(jù)分析可知,tan8由最初的0.028變?yōu)?.0035,處理前由于一次將軍帽導(dǎo)電桿處接觸不良,相當(dāng)于在被試品回路中串入一個電阻,導(dǎo)致有功分量增大,無功分量保持不變,介質(zhì)損耗角增大。3防范及判定套管介質(zhì)損耗因數(shù)超標(biāo)的建議套管介質(zhì)損耗因數(shù)和電容量測量是判斷套管絕緣狀況的一項重要手段。由于套管體積較小,電容量較?。◣装賞F),因此測量其介質(zhì)損耗可以較靈敏地反映套管劣化受潮及某些局部缺陷。測量其電容量也可以發(fā)現(xiàn)套管電容芯層局部擊穿、嚴(yán)重漏油、小套管斷線及接觸不良等缺陷[2]。鑒于以上分析認(rèn)為,套管一次導(dǎo)電桿接觸不良是導(dǎo)致其介質(zhì)損耗因數(shù)值超標(biāo)的根本原因。如果簡單的從介質(zhì)損耗因數(shù)數(shù)據(jù)超出規(guī)程要求值就判斷套管不合格的話,很容易出現(xiàn)將合格的套管更換掉,耗費大量的人力、物力。因此,在今后的變壓器套管選型及其介質(zhì)損耗因數(shù)測試方面提出以下建議。在變壓器套管的選型上,訂貨應(yīng)綜合考慮各方面的因素,選用適合現(xiàn)場檢修維護的、結(jié)構(gòu)合理的產(chǎn)品。在對設(shè)備的交接驗收過程中,各專業(yè)工作人員一定要嚴(yán)把質(zhì)量關(guān),尤其是檢修人員要注意細節(jié)。現(xiàn)場試驗過程中,試驗人員要熟知設(shè)備結(jié)構(gòu),認(rèn)真檢查各個試驗環(huán)節(jié),結(jié)合相關(guān)試驗數(shù)據(jù)綜合分析,得出正確的試驗結(jié)論,避免對被試品進行誤判、錯判?,F(xiàn)場主變壓器直流電阻測試中,當(dāng)采用三相同時測試時,需將測試數(shù)據(jù)與初值進行比較,發(fā)現(xiàn)異常,可采用相間或單相測試的方法來判斷是否為中性點引線故障,以便進一步對數(shù)據(jù)做出正確的判斷?,F(xiàn)場測量變壓器套管介質(zhì)損耗因數(shù)時,應(yīng)將變壓器繞組連同中性點短接后接高壓引線,以避免變壓器繞組電感、變壓器本體電容對套
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